微波探针、射频探针、微带测试探针

E-Probe微波探针

发布时间: 2019-02-26 18:09

E-Probe(微波探针)是同轴探针提供一个中心信号和几个固定螺距地面接触，该款探针为应用提供了优良的电气性能及性价比。同时探针有不同范围 0.8，1.5，2.5mm的接地选着.

E-probe（微波探针）是同轴探针提供一个信号平台中心和几个固定螺距地面接触电感。该款探针为应用提供了优良的电气性能与相邻的测试点。同时探针有不同范围的0.8,1.5,2.5毫米从信号到地面接触。可以探测信号测试在这些应用程序如射频模块插入/输出信号测量、高速数字&高频电路板分析

特点: 优势:
1.DC-20/40GHz带宽 1.容易探测测试没有任何焊接过的电路板信号

2.超低的插损及回波损耗 2.兼容pogo大头针允许探索non-planar结构

  3.GSG、GS配置（0.8/1.5/2.5mm间距范围）    3.探针的使用寿命更加长久，测试时长短

  应用:
  1.射频和微波模块信号插入,检测和测量输出
  2.高频电路板电气性能分析
  3.高速数字电路分析

电气性能：

描述	参数
频率（Frequency Range）	DC-20/40GHz
插损(Insertion Loss)	<0.5dB@20GHz ＜1dB@40GHz
回波损耗（ Return Loss）	<10dB

机械性能：
描述	参数
连接器形式（ connector form ）	3.5mm/2.92mm
探针间距（ probe spacing ）	0.8/1.5/2.5mm
针结构（ Needle structure ）	Popo Pin结构