我同时测试好几个参数，能否进行部分参数去嵌，部分参数不去嵌，一次测试完成？如果可以要怎么设置操作？
可以在不同的测量通道下测试不同的参数，每个通道可以单独去嵌入。

自动端口延伸会将测试平面延伸到连接器件的界面，对于去除引出线的阻抗失配有比较好的效果，同时会补偿损耗，但这种方式的损耗补偿和直接测试直通走线的损耗不一样，哪种更准确呢？
自动端口延伸假设夹具部分的匹配是理想的，如果实际夹具存在失配，会作为残余误差引入到测量的结果中，导致测量结果出现波动。因此它是不能去除引线的阻抗失配的。
这两种方式精度都一般，都只适合于传输线阻抗是 50ohm 理想匹配情况，实际中，相对来说，自动端口延伸比直接扣除直通的插损要好一点。

想要测量天线的 S 参数。若馈入天线的微带线长度为10mm，可先做一段 10mm 的两端口网络并进行测量，然后导入 ADS 中进行去嵌吗，可用带宽是否比 TRL 宽，测量结果可信吗？
测量结果是否可信，取决于 10mm 微带线的 S 参数是否准确，可以 ADS 仿真得到，也可以通过 TRL 校准后测试得到。

去嵌入的原理是什么？
去嵌其实就是在得到了夹具的特性 S 参数模型后，利用矩阵运算把夹具的特性从整体测量中去除的过程。整体（夹具加被测件）的 T矩阵（传输矩阵）等于夹具的 T矩阵和被测件的 T矩阵的乘积。而 S 参数矩阵和 T 矩阵可以相互转换。因此有了整体的 S 参数和夹具的 S 参数，就能利用矩阵运算得到被测件的 S 参数。

标准的微带线上测试器件的驻波系数，自动延伸后，驻波没有明显变化 ；但是用不同长度微带线测试，驻波又变化很大？
自动延伸只能补偿微带线的时延，插损，无法消除失配误差，所以要求你的微带线匹配尽量接近于 50ohm，如果不是，测出的结果会差异较大，尤其是不同长度的微带线阻抗不一样的情况下。

自动端口延伸或者 de-embedding 如果需要去嵌入的器件比较多，比如有开关耦合器功分器，这个对动态范围是如何影响的？
动态范围需要减去整个去嵌链路的插损。例如矢网端口的动态范围是 120 dB，在输入和输出端链路损耗之和为 10 dB，那么矢网的动态范围变为 110 dB。

去嵌的具体步骤？
去嵌入可以参考 http://na.support.keysight.com/pna/help/latest/S3_Cals/Fixturing.htm

请问像巴伦这种单端转差分形式的该如何校准？
我理解您的问题是 ：巴伦作为测试夹具，如果去嵌掉巴伦的影响。可以在 PNA 上设置拓扑结构为单端到差分，做三端口校准，然后测量巴伦保存 s2p 文件（Mixed Mode S 参数），然后用这个s2p 文件去做去嵌。

自动测试系统中，如何实现测试通道双端口的自动校准？即不需要人工介入，不需要人为连接校准器？
可以考虑用开关矩阵切换到校准件上做校准。这样校准后的校准端面和测量端面有差异。可以提前把这两个端面的差异的 s2p文件提取出来（用 Cal Plane Manager，基于两级校准的 Cal set可以提取差异的 s2p），然后用去嵌的方式可以修正到测量端面。

对于端口延伸，短路是否会比开路准确？是否包含插损，这个一般建议是否勾选？
频率范围窄的话，open 或 short 都一样，如果宽的话，最好两个都用。需要勾选包含插损，这样能够同时提取夹具的损耗。

PNA（N5224A）将输出阻抗改为差分 85 Ohm, 是只改Cal >fixture 里面的设置吗，system Z0 要不要改？
如果校准件是差分 85 欧的校准件，那么校准后就是差分 85 欧，就不需要用 Cal > Fixture > Port Z Conversion 做阻抗变换了。 如果校准件是单端 50 欧，差分 100 欧，校准后可以用 Port Z Conversion 变换为差分 85 欧。设置 System Z0 会影响史密斯圆图的中心点的阻抗，时域变换起始阻抗，以及保存的 s4p 文件的 R 的值。如果只关心 S 参数的幅度和相位，不需要修改system Z0。

校准件是单端 50 欧，差分 100 欧，同轴线是单端 50 欧，测试夹具是单端 50 欧，DUT 是差分 85 欧（ 单 端 42.5欧），目前用 Port Z Conversion 变换为差分 85 欧后，测试 DUT 后回损变的更差了，用什么方式可以改善？
如果没有去嵌夹具，只是做端口阻抗变换是不行的。因为夹具是差分 100 欧的，转换为 85 欧就是失配的。
因此最好先用 AFR 或 TRL 校准把夹具效应去掉，然后对 DUT本身做端口阻抗变换。

PLTS 里面的 gating 只能显示 S11 的 结 果，不 能 显 示gating 后 S12 的结果？
Gating 只能作用于反射参数。如果要修正夹具对插损的影响，需要用 TRL 校准或 AFR。

当使用测试夹具测试电路时，如何校准掉夹具部分的影响？比如采用 pogo pin 针，或者同轴结构时。
可以考虑用自动端口延伸（Auto Port Extension）、TRL 校准或AFR 去嵌的方法。如果夹具匹配较好，可以用自动端口延伸通过测量开路或短路提取夹具的插损和电长度，从而构建夹具模型做去嵌；如果夹具匹配不理想，只能考虑用 TRL 校准或 AFR去嵌。

频率范围 100MHz-3GHz，在 75ohm 线缆末端进行双端口校准，校准完成后什么也不接的情况下，S11 和 S22 最大达到 +0.4dB（多次校准一样），这是什么原因？ （架构：网分 +N 转 SMA+matching pad+75ohm 线缆）
这种情况需要把矢网的 System Z0 设为 75 欧，然后用 75 欧的校准件去校准。

验证 50ohm-75ohm 的 pad 和 75ohm 电缆是否良好采取以下方法 ：在 75ohm 电缆校准后，摇晃电缆，重复插拔产品。曲线一致性很好。请问还有其他验证方法吗？
可以在两个端口都通过 50-75 转接 pad 和 75 欧电缆以及一个75 欧的接头连接到一起，测量 S21 曲线，把 IFBW 设为 1 kHz，抖动电缆观察 S21