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高速差分探针50GHz

射频微波探针

市场价:￥0.00

价格:￥0.00

  1.工作频率高   2.针尖硬度高3.高频性能稳定4.测时延、差分信号使用    5.替代N1021B
E-Probe微波探针

射频微波探针

市场价:￥0.00

价格:￥0.00

E-Probe(微波探针)是同轴探针提供一个中心信号和几个固定螺距地面接触，该款探针为应用提供了优良的电气性能及性价比。同时探针有不同范围 0.8，1.5，2.5mm的接地选着.
MP330-SF341

1代2代连接器探针

市场价:￥0.00

价格:￥0.00

MP330-SF34射频测试探针，替代进口HRMJ-U.FLP-ST1产品，产品性能优异，使用寿命更长，低驻波比、插损
MP200-SF331

3代5代连接器探针

市场价:￥0.00

价格:￥0.00

MP200-SF33射频测试探针，替代进口MM121603产品，产品性能优异，使用寿命更长，低驻波比、插损
EP-40B-1-08

PCB微波测试探针

市场价:￥0.00

价格:￥0.00

E-probe（微波探针）是同轴探针提供一个信号平台中心和几个固定螺距地面接触电感。该款探针为应用提供了优良的电气性能与相邻的测试点。同时探针有不同范围的0.8,1.5,2.5毫米从信号到地面接触。可以探测信号测试在这些应用程序如射频模块插入/输出信号测量、高速数字&高频电路板分析
EP-20/40B-2-15/25

PCB微波测试探针

市场价:￥0.00

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E-probe（微波探针）是同轴探针提供一个信号平台中心和几个固定螺距地面接触电感。该款探针为应用提供了优良的电气性能与相邻的测试点。同时探针有不同范围的0.8,1.5,2.5毫米从信号到地面接触。可以探测信号测试在这些应用程序如射频模块插入/输出信号测量、高速数字&高频电路板分析
EP-20/40V-1-08

PCB微波测试探针

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E-probe（微波探针）是同轴探针提供一个信号平台中心和几个固定螺距地面接触电感。该款探针为应用提供了优良的电气性能与相邻的测试点。同时探针有不同范围的0.8,1.5,2.5毫米从信号到地面接触。可以探测信号测试在这些应用程序如射频模块插入/输出信号测量、高速数字&高频电路板分析
EP-20/40V-2-15/25

PCB微波测试探针

市场价:￥0.00

价格:￥0.00

E-probe（微波探针）是同轴探针提供一个信号平台中心和几个固定螺距地面接触电感。该款探针为应用提供了优良的电气性能与相邻的测试点。同时探针有不同范围的0.8,1.5,2.5毫米从信号到地面接触。可以探测信号测试在这些应用程序如射频模块插入/输出信号测量、高速数字&高频电路板分析
MP250-QM241(替代MM206417)

3代开关探针

市场价:￥0.00

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   1.工作频率高   2.测试寿命长3.高频性能稳定4.驻波及损耗低   5替代MM206417
MP200-SP24(替代MM201622)

3代5代连接器探针

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   1.工作频率高   2.测试寿命长3.高频性能稳定   4.驻波及损耗低
MP220-SF321（替代MS-180-HRMJ-1）

4代开关连接器测试探针

市场价:￥0.00

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   1.工作频率高   2.测试寿命长3.高频性能稳定4.驻波及损耗低5.替代MS-180-HRMJ-1
MP250-SF331(替代MM126320/MM126314)

3代开关探针

市场价:￥0.00

价格:￥0.00

   1.工作频率高   2.测试寿命长3.高频性能稳定4.驻波及损耗低5替代MM126320      MM126314