微信业务联系


021-69760391
服务热线
主页 ∷ 射频探针 ∷ 差分探针 ∷ E-Probe微波探针
当前位置：
E-Probe微波探针
    发布时间: 2019-02-26 18:09    
E-Probe微波探针
E-probe（微波探针）是同轴探针提供一个信号平台中心和几个固定螺距地面接触电感。该款探针为应用提供了优良的电气性能与相邻的测试点。同时探针有不同范围的0.8,1.5,2.5毫米从信号到地面接触。可以探测信号测试在这些应用程序如射频模块插入/输出信号测量、高速数字&高频电路板分析

                                            特点:                                                  优势:
                          1.DC-20/40GHz带宽                          1.容易探测测试没有任何焊接过的电路板信号

                          2.超低的插损及回波损耗                     2.兼容pogo大头针允许探索non-planar结构

                          3.GSG、GS配置（0.8/1.5/2.5mm间距范围）     3.探针的使用寿命更加长久，测试时长短

                          应用:
                          1.射频和微波模块信号插入,检测和测量输出
                          2.高频电路板电气性能分析
                          3.高速数字电路分析

                              电气性能：

描述 参数
频率（Frequency Range） DC-20/40GHz   
插损(Insertion Loss) <0.5dB@20GHz ＜1dB@40GHz
回波损耗（ Return Loss） <10dB



机械性能：
描述 参数
连接器形式（ connector form ） 3.5mm/2.92mm
探针间距（  probe spacing ） 0.8/1.5/2.5mm
针结构（ Needle structure ） Popo Pin结构


                                                               测试图：