损耗是指信号在电缆组件中传输过程中的能量损失。当射频信号在电

缆组件的传输过程中，一部分能量转变成热量消耗掉，一部分能量通过

电缆的外导体泄露出去。这两部分能量的损失之和称之为损耗，或者叫

做衰减。通常用单位长度在某一固定频率点的dB值来表示，因为损耗是

随着频率的升高而增大的。

对一个射频系统，损耗通常有着严格的指标，毕竟损耗对能量的损失

非常大，3dB的衰减对能量的损失为50%。所以说，降低电缆和电缆组件

的损耗对于射频系统来说非常重要。通过选择低损耗的电缆而增加的成

本远远小于因选择高损耗电缆而增大功放的成本。

衰减的大小取决于导体和介质的损耗。从某种程度上看，同轴电缆的

损耗类似于电力电缆的直流电阻。粗的电缆因为导体更粗，从而导体的

损耗更低，从而降低了整个电缆的损耗。而介质的损耗同电缆的大小无

关。介质的损耗同频率变化成线性关系，而导体的损耗同频率的平方根

成线性关系。因此，介质损耗所占的比重随着频率的增加而逐步增大。

 

影响衰减的因素有很多，可以分成材料因素和工艺因素。从材料因素

上看，主要影响衰减的因素如下项目：

 a.   内导体结构（单芯和绞合）；

b.  外导体结构（编织和绕包）；

c.   导体材料（电导率的不同）；

d.  介质材料。

 

1.1   内导体结构对衰减的影响

在设计同轴电缆的时候，有时候会根据客户对电缆柔软度的需求，选

择单芯导体或者多芯导体，多芯导体对比单芯导体更加柔软。但是选择了

柔软性，同样尺寸和结构的电缆会牺牲了一部分损耗。这主要是因为导体

表面的不圆整而导致的表面电阻的增大。

 

3.2 外导体结构对衰减的影响

外导体结构相对于内导体的结构有着更丰富的选择。对于柔性电缆，

通常有镀银圆线编织、镀银扁平线编织，镀银铜带绕包。镀银圆线编织是

最传统的RG电缆的基本结构，成本非常低廉；镀银圆线是上个世纪60年代

发明的结构，这种结构衰减相对低，弯曲的稳定性好，高温特性也比较

稳定；而镀银铜带绕包结构是上个世纪80年代发明的结构，其特点是超低

损耗、极佳的机械相位，但是成本也是最高的一种结构，对生产工艺要求

也比较苛刻。该结构目前比较主流的军用电缆结构。

 

1.2   导体材料对衰减的影响

对于同轴电缆，目前主流的导体材料有镀银铜，无氧铜和铝三种。对

于高端电缆，主要采用铜材和镀银铜两种材料。铜材采用铜包铝以降

低重量和成本，因为射频信号的“趋肤效应”，信号只在导体的表面

传输，所以镀银铜或者铜包铝可以考虑成银的电导率和铜的电导率，

电导率的大小会影响电缆导体的衰减。对于镀银铜导体的镀银厚度，

上海东广公司严格选用按照ASTM标准的镀银厚度以确保电缆在全频段

下的衰减。

 

1.3   介质材料对衰减的影响

同轴电缆的导体材料也有比较丰富的选择，从军用电缆上看，主要有

固态PTFE材料，低密度PTFE材料。固态PTFE材料是传统RG系列电缆的

主打材料，相对工艺比较简单，成品率高，目前主要用在民品上，尤其是

手机通讯中的智能天线上大量采用。而低密度PTFE材料，也就是微孔

PTFE材料是美国GORE公司发明的材料，PTFE经过拉伸后在保持原有

PTFE材料的特性外，大大提升了材料的电气性能，同时又显著的降低了

材料的重量，目前军用射频电缆大部分采用低密度PTFE材料。按照材料

密度的不同，低密度PTFE又分成76%和83%传输速率两种。

另外，衰减受生产工艺的影响也比较大，介质绕包，材料氧化，编织

工艺等都会对衰减产生一定的影响，良好稳定的生产工艺，是保证电缆

批次衰

减稳定性重要手段。同时，电缆在储存过程应保证电缆两端密封，并处于

室温和较低的湿度条件下，避免电缆因氧化和受潮而引起的衰减增大。

 

1.4   温度对衰减的影响

衰减通常是在室温25°C下测量，温度的变化对衰减有影响，可以通过

修正系数修正。温度对衰减的影响主要是因为导体的电阻随着温度的增

加和介质的功率因数的增加而导致的。衰减同温度的变化基本上成线性

关系。在室温处因PTFE的裂变过程由于一个小的拐点，基本上可以忽略

不计。每种电缆结构的衰减曲线的斜率略有不同，建议同厂家获得比较

全面的数据。